溫控開關(guān)配件的紅外成像法可以檢測(cè)局部放電、泄漏電流流過絕緣物質(zhì)時(shí)的介電損耗或電阻損耗等引起的溫控開關(guān)配件局部溫度升高，可以用于在線檢測(cè)。大量運(yùn)行復(fù)合溫控開關(guān)配件進(jìn)行了紅外熱像測(cè)溫普查，結(jié)果發(fā)現(xiàn)：凡有明顯局部過熱點(diǎn)的溫控開關(guān)配件，其過熱點(diǎn)至絕緣子高壓端硅橡膠表面均顯著發(fā)黑、粉化、變脆、憎水性基本喪失。
有的溫控開關(guān)配件有許多細(xì)小裂紋甚至出現(xiàn)嚴(yán)重破損；發(fā)熱點(diǎn)至高壓端的一段不能承受工頻耐壓試驗(yàn)或陡波沖擊試驗(yàn)，可知發(fā)熱點(diǎn)為內(nèi)絕緣界面局部放電進(jìn)展的位置。儀器造價(jià)高且測(cè)量易受陽(yáng)光、大風(fēng)、潮氣、環(huán)境溫度及一些能引起溫控開關(guān)配件表面溫度急劇變化因素的影響是紅外成像法的不足之處。
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